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에이베트 조찬 세미나 공유 — 문제를 점검할 때는 전체적인 인식과 체계적 사고가 필요합니다.

에이베트 조찬 세미나 공유 — 문제를 점검할 때는 전체적인 인식과 체계적 사고가 필요합니다.

플라이 샷 데이터의 변동이 지나치게 크다. 내용: 작년 말에 플라이 샷 관련 프로젝트를 하나 진행했는데, 비전 시스템에서 제공한 데이터가 수십 마이크로미터 단위로 변동하여 정밀도가 너무 낮아 요구 사항을 충족하지 못했다. 이에 공급업체에 연락하여 비전 소프트웨어를 점검하고 카메라를 교체하며 직선 모터의 파라미터를 최적화하는 등의 조치를 취했지만 문제를 찾지 못했다. 결국 광원 컨트롤러를 점검한 결과, 광원 컨트롤러의 응답 속도가 너무 느려서 발생한 것으로 확인되었다. 결론적으로, 문제를 진단할 때는 전체적인 관점과 체계적인 사고방식을 갖추어야 하며, 주요 부품뿐만 아니라 부차적인 부품까지도 빠짐없이 점검해야 한다.

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2026년 IPC 전시회에서 다시 만나요! 여러분의 방문을 기다리겠습니다!

2026년 IPC 전시회에서 다시 만나요! 여러분의 방문을 기다리겠습니다!

2026년 다시 한번 IPC 전시회가 개최됩니다. 여러분의 방문을 기다리겠습니다! 전시관: D관, 부스 번호: 1611 2026년 IPC 전시회에서 다시 만나요! 여러분의 방문을 기다리겠습니다! 홀: D • 부스 번호: 1611

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